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2019年12月4日開催 第1回金属観察・表面分析講習会
第1回金属観察・表面分析講習会
日時
令和元年１２月４日（金曜日） 13時30分～17時00分
会場
岡山県工業技術センター 1F 技術交流室 （岡山市北区芳賀5301）
内容
講演 「表面分析装置(XPSとAES)の基礎と活用事例の紹介」
講師：日本電子株式会社 SA事業ユニット SA技術開発2グループ 堤 健一 氏
講演「最新のXPS装置と表面分析応用事例」
講師：アルバック・ファイ株式会社 テクニカルサポート室 眞田 則明 氏
センター所有の金属・表面分析装置の紹介
紹介：岡山県工業技術センター 応用技術部 金属・加工科 國次 真輔 専門研究員
XPSとAES装置の見学
Ｘ線光電子分光装置(XPS) オージェ電子分光分析装置(AES)
参加者
４２名